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电子元器件失效分析及解决技术与典型案例

作者:不详 来源:gz.xue.net 更新日期:2008/7/26 13:55:29 阅读次数:
 
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  项目名称: 电子元器件失效分析及解决技术与典型案例
  价    格: 电话咨询 推出时间:常年滚动开班
  地    点: 上 海 -- 金 水 湾 大 酒 店
  关 键 字: 电子元器件
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课 程 收 益:
  本课程系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。主要讲授电子元器件失效分析的目的和意义、失效分析程序、失效分析技术以及失效分析主要仪器设备与工具及解决技术;案例按照元器件门类分为集成电路、微波器件、混合集成电路、分立器件、阻容元件、继电器和连接器、电真空器件、板极电路和其它器件,多个失效分析典型案例,突出介绍了该类器件的失效特点、主要失效模式及相关失效机理,提出了预防和控制使用失效发生的必要措施及解决技术。
  该课程具有较强的实用性,可供失效分析专业工作者以及元器件和整机研制、生产单位的工程技术人员学习,通过大量的失效分析案例讲解,加深学员对该课程的理解,初步掌握电子器件失效分析技能和方法,提高器件应用水平。

课 程 提 纲:

第一部分:电子元器件失效分析技术
1.失效分析的基本概念和一般程序
2.失效分析的电测试
3.无损失效分析
4.模拟失效分析
5.制样技术
6.形貌像技术
7.扫描电镜电压衬度像
8.热点检测技术
9.聚焦离子束技术
10. 微区化学成分分析技术

第二部分:分立半导体器件和集成电路的失效机理和案例
1.塑料封装失效
2.引线键合失效
3.水汽和离子沾污
4.介质失效 5.过电应力损伤
6.闩锁效应
7.静电放电损伤
8.金属电迁移
9.金属电化学腐蚀
10.金属-半导体接触退化
11.芯片粘结失效
第三部分:电子元件的失效机理和案例
1. 电阻器的失效机理和案例
2. 电容器的失效机理和案例
3. 继电器的失效机理和案例
4.连接器的失效机理和案例
5.印刷电路板和印刷电路板组件

第四部分:微波半导体器件失效机理和案例
1.微波器件的主要失效模式及失效机理
2.微波器件典型案例综合分析
3.微波器件的失效控制措施
4.微波器件失效分析典型案例

第五部分:混合集成电路失效机理和案例
1.混合集成电路的主要失效模式及失效机理
2.混合集成电路典型案例综合分析
3.混合集成电路的失效控制措施
4.混合集成电路失效分析典型案例

第六部分 其它器件的失效机理和案例
1.其它器件主要失效模式及失效机理
2.其它器件典型案例综合分析
3.其它器件失效分析典型案例
  
专 家 介 绍:费庆宇(高级工程师)
  1982年起在中国电子产品可靠性与环境实验研究所(现名:信息产业部电子五所)工作,现任高级工程师。长期从事半导体器件(包括集成电路和GaAs微波器件等)的失效机理和失效分析技术研究。分别于1989年、1992-1993年、2001年由联合国、国家教委和中国国家留学基金委员会资助赴联邦德国、加拿大和美国作访问学者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。曾多次应邀外出讲学,曾多次主持重大课题研究,他主持的《VLSI失效分析技术》课题荣获2003年度国防科技二等奖。
  收费标准:
  2000
本项目文字如有变化,以公司最新规定为准.
  联系方式:  
  咨询电话: 020-86000743 020-86000643
  手 机: 13450353822 电 邮:nihao@foxmail.com
      

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